Beijing, 28 mai (Xinhua) — As autoridades chinesas divulgaram uma diretriz para o desenvolvimento de um sistema de metrologia baseado em IA e o fortalecimento das capacidades relacionadas, com o objetivo de mapear de forma sistemática o desenvolvimento das capacidades de metrologia baseada em IA do país.
A diretriz foi divulgada pela Administração Estatal para Regulação do Mercado (AERM) e pela Comissão Nacional de Desenvolvimento e Reforma.
O lançamento dessa diretriz marca uma mudança crucial no setor de IA da China, passando da simples expansão do poder de computação e da escala para a melhoria da qualidade e o fortalecimento das capacidades fundamentais, de acordo com a AERM.
Isso é de grande importância para promover a integração profunda da tecnologia de IA com a economia real e acelerar o desenvolvimento de novas forças produtivas de qualidade, segundo a AERM.
A diretriz se concentra em seis áreas-chave: suporte fundamental, tecnologia geral, tecnologia central, padrões técnicos de metrologia, indústria de serviços de metrologia e capacitação inteligente da metrologia.
O esboço do 15º Plano Quinquenal (2026-2030) da China, divulgado em março de 2026, enfatiza claramente a implementação abrangente da iniciativa “IA Plus”.
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